4吋激光干涉仪

4吋激光干涉仪

激光干涉仪采用相移技术准确表征被测表面的三维形貌,测量精度高达 0.06um 甚至更高,广泛用于平面光学元件高精度检测。

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激光干涉仪采用相移技术准确表征被测表面的三维形貌,测量精度高达 0.06um 甚至更高,广泛用于平面光学元件高精度检测。

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优势

1. 准确测量 100mm 口径以下的光学元件的透射波前、反射波前。
2. 测量精度和测量重复性能媲美美国 Zygo 和 4D 干涉仪。
3. 根据客户要求定制开发。


主要技术指标

项目名称

性能指标

测量方式

菲索干涉原理

移相方式

波长移相或机械移相

主机波长

632.8nm(可定制)

主相机分辨率

2048*2048

测量口径

4-inch

出光口径

100mm

主相机调焦能力

主相机采集速度

50Hz

透射平面参考镜面形误差(PV)

λ/10

反射平面参考镜面形误差(PV)

≤λ/10(可定制1/20)

空腔精度(PV)

≤λ/10, λ=632.8nm

面形误差测量重复性(RMS)

0.6nm

面形精度RMS

0.002λ,λ=632.8nm

测量高平行度光学元件透、反射波前

支持

标准配件

计算机、条纹监视及分析软件

相干长度

1.0m(若被扩束,此参数会变长)

工作温度要求

22°C +1°C

工作温度波动要求

每小时变化小于1°C

工作湿度要求

55%±10%RH

隔震要求

气浮平台,固有频率:1-2Hz

工作电压

AC 110-220V,50/60Hz


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